KAISEM
ศูนย์นวัตกรรมการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ สจล. ภายใต้คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ ให้บริการเครื่องมือสำหรับงานวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาค พื้นผิวระดับนาโน และการทดสอบทางไฟฟ้าเคมี เพื่อสนับสนุนงานวิจัยและอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์
รายการเครื่องมือ
ค้นหาศูนย์และเครื่องมือทั้งหมด
เครื่องมือและบริการของKAISEM
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
Scanning electron microscope (SEM) | Carl Zeiss | EVO MA10
รหัสเครื่องมือ: SEM-MENU-01
วิเคราะห์พื้นผิวของตัวอย่าง และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมี
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
Atomic force microscope (AFM) | park system | park system 100
รหัสเครื่องมือ: AFM-MENU-01
ทดสอบวิเคราะห์พื้นผิวของวัสดุ ดูความเรียบความขรุขระของวัสดุ ด้วยแรงระหว่างอะตอม
เครื่องวิเคราะห์การกัดกร่อน
Potentiostat | Autolab | Autolab PGSTAT302N
รหัสเครื่องมือ: POTENT-MENU-01
ทดสอบการกัดกร่อนของโลหะ