กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
KAISEM

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

Scanning electron microscope (SEM)

วิเคราะห์พื้นผิวของตัวอย่าง และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมี

ศูนย์/หน่วยงานKAISEM
รหัสเครื่องมือSEM-MENU-01
ชื่ออังกฤษScanning electron microscope (SEM)
BrandCarl Zeiss
ModelEVO MA10
สถานะReady
ที่ตั้งศูนย์นวัตกรรมการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ สจล. (KAISEM) ห้องปฏิบัติการวัสดุอัจฉริยะ ชั้น 5 ห้อง 514อาคารเฉลิมพระเกียรติ 55 พรรษา สมเด็จพระเทพฯ คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ สจล.
ผู้ดูแล/ผู้สนับสนุนภวรรณตรี บ่อไทย
ขอบเขต/ข้อจำกัดการใช้งาน

น้ำหนักไม่เกิน 500 g ขนาดความกว้างไม่เกิน 5 cm ความสูงเกิน 5 cm