กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
Atomic force microscope (AFM)
ทดสอบวิเคราะห์พื้นผิวของวัสดุ ดูความเรียบความขรุขระของวัสดุ ด้วยแรงระหว่างอะตอม
ขอบเขต/ข้อจำกัดการใช้งาน
ขนาด กว้างxยาว ไม่เกิน3 cm หนาไม่เกิน 5มิล น้ำหนักไม่เกิน50กรัม