กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง
Atomic force microscope (High resolution)
รหัสเครื่องมือ
AFM-NANO-01
ยี่ห้อ/รุ่นเครื่องมือ
Seiko Instruments SPI3800N / SPA400
รายละเอียดเครื่องมือ
ตรวจวัดพื้นผิวตัวอย่างของแข็ง แสดงภาพพื้นผิวแบบ 2-3 มิติ / วิเคราะห์ข้อมูลด้านขนาด-ความขรุขระของพื้นผิว/ ขนาดพื้นที่ตรวจวัดไม่เกิน 20x20 ไมโครเมตรต่อหนึ่งจุด
ข้อจำกัดตัวอย่างที่ใช้กับเครื่องมือ
1. ตัวอย่างเป็นของแข็ง เช่น ฟิล์ม แผ่นโลหะ ที่มีความโก่งงอต่ำ 2. ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 2 cm 3. ตัวอย่างควรมีขนาดกว้างxยาวxสูง ไม่เกิน 3 x 3 x 1 cm
สถานที่ตั้งเครื่อง
ศูนย์ทดสอบและวิเคราะห์เทคโนโลยีขั้นสูง
ห้อง Cleanroom
ห้อง Cleanroom อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิรินธร
คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ สจล.
รายละเอียดเครื่องมือ
Ready
ผู้รับผิดชอบเครื่องมือ
วิษา หอมจันทร์