กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสมรรถนะสูง

Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)

เทคโนโลยีการถ่ายภาพทางเลือกสำหรับการวิจัยเกี่ยวกับอนุภาคนาโนตัวเร่งปฏิกิริยาผงและวัสดุทางนาโนเทคโนโลยีที่ให้ความละเอียดสูงถึง 250,000 เท่า และมี resolution สูงถึง 1.0 nm และมี detector สำหรับการวิเคราะห์ ทั้งแบบ Secondary Electron Detector และ Backscattered Electron Detector ซึ่งใช้ในการตรวจวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของอนุภาค และลักษณะการกระจายของตัวของอนุภาคในโครงสร้างจุลภาคใช้กันอย่างแพร่หลายทั้งในงานวิจัย และงานภาคอุตสาหกรรมในช่วงระยะเวลาการทำงานสั้นที่ควบคุมการทำงานแบบอัตโนมัติด้วยระบบคอมพิวเตอร์