กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง
Atomic force microscope (High resolution)
ตรวจวัดพื้นผิวตัวอย่างของแข็ง แสดงภาพพื้นผิวแบบ 2-3 มิติ / วิเคราะห์ข้อมูลด้านขนาด-ความขรุขระของพื้นผิว/ ขนาดพื้นที่ตรวจวัดไม่เกิน 20x20 ไมโครเมตรต่อหนึ่งจุด
ขอบเขต/ข้อจำกัดการใช้งาน
1. ตัวอย่างเป็นของแข็ง เช่น ฟิล์ม แผ่นโลหะ ที่มีความโก่งงอต่ำ 2. ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 2 cm 3. ตัวอย่างควรมีขนาดกว้างxยาวxสูง ไม่เกิน 3 x 3 x 1 cm