กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์ คณะวิทยาศาสตร์ สจล.

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

Scanning Electron Microscope (SEM)

- วิเคราะห์โครงสร้างพื้นผิววัตถุขนาดเล็กในระดับไมโครเมตร - ทั้งทางกายภาพและชีวภาพ แต่ต้องไม่มีน้ำมันเป็นส่วนประกอบ และไม่มีความเป็นแม่เหล็ก - ชนิดชิ้นงานขนาดไม่เกิน 1x1x1 เซนติเมตร ชนิดผง น้ำหนักไม่น้อยกว่า 0.5 กรัม

ศูนย์/หน่วยงานศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์ คณะวิทยาศาสตร์ สจล.
รหัสเครื่องมือSEM-SCI-01-01
ชื่ออังกฤษScanning Electron Microscope (SEM)
BrandFEI
ModelQuanta250
สถานะReady
ที่ตั้งศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์ คณะวิทยาศาสตร์ สจล. ห้อง 105 SEM sc06 ชั้น1 ห้อง105 คณะวิทยาศาสตร์ สจล.
ผู้ดูแล/ผู้สนับสนุนวาสินี ธรรมสถิต
ขอบเขต/ข้อจำกัดการใช้งาน

- ชนิดชิ้นงานขนาดไม่เกิน 1x1x1 เซนติเมตร - ชนิดผง น้ำหนักไม่น้อยกว่า 0.5 กรัม - ไม่มีน้ำมันเป็นส่วนประกอบ เเละไม่มีความเป็นเเม่เหล็ก