กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง

Atomic Force Microscope (High Resolution)

รหัสเครื่องมือ
  • AFM-NANO-01
  • ยี่ห้อ Seiko Instruments รุ่น SPI3800N / SPA400
  • ตรวจวัดพื้นผิวตัวอย่างของแข็ง แสดงภาพพื้นผิวแบบ 2-3 มิติ / วิเคราะห์ข้อมูลด้านขนาด-ความขรุขระของพื้นผิว/ ขนาดพื้นที่ตรวจวัดไม่เกิน 20×20 ไมโครเมตรต่อหนึ่งจุด
  • 1. ตัวอย่างเป็นของแข็ง เช่น ฟิล์ม แผ่นโลหะ ที่มีความโก่งงอต่ำ
  • 2. ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 2 cm
  • 3. ตัวอย่างควรมีขนาดกว้างxยาวxสูง ไม่เกิน 3 x 3 x 1 cm
สถานที่ตั้งเครื่อง
  • ศูนย์ บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี
  • ห้อง Cleanroom
  • อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิรินธร
  • ภาควิชานาโนวิทยาและนาโนเทคโนโลยี
  • คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ สจล.

พร้อมใช้งาน

ผู้รับผิดชอบเครื่องมือ

  • ชื่อ – นามสกุล
  • นางสาววิษา หอมจันทร์
  • คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ ภาควิชานาโนวิทยาและนาโนเทคโนโลยี
  • ชื่อศูนย์ บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี
Scroll to Top