กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง
Atomic Force Microscope (High Resolution)
รหัสเครื่องมือ
- AFM-NANO-01
ยี่ห้อ/รุ่นเครื่องมือ
- ยี่ห้อ Seiko Instruments รุ่น SPI3800N / SPA400
รายละเอียดเครื่องมือ
- ตรวจวัดพื้นผิวตัวอย่างของแข็ง แสดงภาพพื้นผิวแบบ 2-3 มิติ / วิเคราะห์ข้อมูลด้านขนาด-ความขรุขระของพื้นผิว/ ขนาดพื้นที่ตรวจวัดไม่เกิน 20×20 ไมโครเมตรต่อหนึ่งจุด
ข้อจำกัดตัวอย่างที่ใช้กับเครื่องมือ
- 1. ตัวอย่างเป็นของแข็ง เช่น ฟิล์ม แผ่นโลหะ ที่มีความโก่งงอต่ำ
- 2. ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 2 cm
- 3. ตัวอย่างควรมีขนาดกว้างxยาวxสูง ไม่เกิน 3 x 3 x 1 cm
สถานที่ตั้งเครื่อง

- ศูนย์ บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี
- ห้อง Cleanroom
- อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิรินธร
- ภาควิชานาโนวิทยาและนาโนเทคโนโลยี
- คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ สจล.
สถานะเครื่องมือ
พร้อมใช้งาน
ผู้รับผิดชอบเครื่องมือ
- ชื่อ – นามสกุล
- นางสาววิษา หอมจันทร์
- คณะเทคโนโลยีนวัตกรรมบูรณาการ ภาควิชานาโนวิทยาและนาโนเทคโนโลยี
- ชื่อศูนย์ บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี